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구조·표면 분석
Structural & Surface Characterization
전자현미경 및 원자힘현미경을 활용하여 반도체·나노 소재의 미세구조와 표면 형상을 관찰하고 분석하기 위한 실습 Kit입니다.
활용 분석법 FE-SEM · AFM
FE-SEM Array and Defects Kit
다양한 크기의 나노·마이크로 구조와 결함을 FE-SEM으로 관찰하고 크기 및 형상에 따른 이미징 특성을 이해하기 위한 실습 Kit
구성막대형 5 · 10 · 20 · 30 · 40 · 50 · 100 nm / 정사각형 5 · 10 · 20 · 30 · 40 · 50 · 100 nm
규격1 set
FE-SEM Micro MXene (Solution) Kit
MXene 소재의 미세구조와 형태를 FE-SEM을 이용하여 관찰하고 분석하기 위한 실습 Kit
구성Accordion-like MXene
규격1 set
AFM Te Thin Film Kit
서로 다른 두께로 제작된 Te 박막의 표면 형상과 두께를 AFM으로 측정·비교하기 위한 실습 Kit
구성Thickness : 2 · 5 · 10 · 20 · 50 nm
규격1 set
AFM Exfoliated MoS₂ Terrace Kit
박리된 MoS₂의 terrace 구조를 AFM으로 관찰하고 원자층 두께와 표면 형상을 이해하기 위한 실습 Kit
구성Exfoliated MoS₂ (multi-terrace)
규격1 set